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CMOS工艺波动相关论文

一种用于表征亚阈值电流镜电路中CMOS工艺波动的统计学方法

提出了一种新的表征亚阈值电路镜电路中CMOS工艺波动的方法．与现有的统计学方法相比，该方法在理论上和计算复杂度上相对简洁，但对亚阈......

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CMOS工艺波动亚阈值电流镜电路随机变量概率离散鞅 CMOS process fluctuations subthreshold current mi

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