GeTe薄膜相关论文
运用一种新的测量单面镀膜膜层光学参数的方法, 对不同热处理的GeTe半导体薄膜样品的光学参数进行了测量, 准确地获得了被测薄膜材......
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运用一种新的测量单面镀膜膜层光学参数的方法 ,对不同热处理的GeTe半导体薄膜样品的光学参数进行了测量 ,准确地获得了被测薄膜材......
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