在详细分析IEEE P1500标准中给出的典型测试环单元优缺点以及安全控制测试环单元优缺点的基础上,给出一种改进型的测试环单元。该......

对于PCI-AHB桥这样的IP核所进行的系统级的功能验证,需要建立一种完备的覆盖所有功能点的验证方法.合理的验证计划,正确的验证环境......

随着超大规模集成电路技术的不断发展,集成电路的集成度不断增加;片上系统(SOC)的规模越来越大,片上系统的设计就变得越来越复杂。......

随着集成电路技术的发展,IP核复用成为集成电路SOC设计的主流.该文通过对广泛应用于SOC设计中的Wishbone总线体系结构和国际上常用......

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针对内建自测试（BIST）技术在SoC测试上的应用问题,提出了一种在IEEE 1500标准下对IP核的BIST设计方法。该方法根据IEEE 1500标准的测......

本文基于IEEE标准设计了一种通用的、低成本的嵌入式IP核测试方法.该方法通过仅重新定义待测IP的端口数量和名称,即可完成各种数字......

随着半导体工艺技术的不断进步,集成电路遵循摩尔定律发展,因此电路规模和复杂度均有逐年提高的趋势。面对电路设计上的这些挑战,S......