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MOSFET结构相关论文

半导体C-V测量基础——C-V测量能够提供有关器件和材料特征的大量信息

通用测试rn电容-电压(C-V)测试广泛用于测量半导体参数,尤其是MOSCAP和MOSFET结构.此外,利用C—V测量还可以对其他类型的半导体器......

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