Muller_C单元相关硕士博士期刊学术论文

随着工艺尺寸的缩减,单粒子翻转（SEU）和单粒子瞬态（SET）成为了深亚微米集成电路中备受关注的可靠性问题。本文基于Muller_C单元的静态......