通过应用一种新的模型来进行电学测试和参数提取,可以获取SIMOX(离子束注入隔离氧化层)SOI圆片的上界面和下界面的界面态参数以及......

本文研究了理想Ｓｉ／ＳｉＯ２／Ｓｉ结构的电容－电压（Ｃ－Ｖ）特性，提出了根据Ｓｉ／ＳｉＯ２／Ｓｉ的Ｃ－Ｖ特征测量ＳｉＯ２厚度、衬底掺杂浓度和固定电荷的方法，并对键合样品进行了实验。......

通过应用一种新的模型来进行电学测试和参数提取，可以获取SIMOX（离子束注入隔离氧化层）SOI圆片的上界面和下界面的界面态参数以及埋氧......

石墨烯薄膜凭借其优异的电学和光学性质(透过率可达98%,载流子迁移率可达2×105 cm2/(V.S),电导率可达106 S/m),以及稳定的化学性......