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TAM控制器相关论文

基于外壳架构与测试访问机制的数字芯核可测试性设计

深亚微米技术的应用以及芯核的嵌入性特点，使传统的测试方法不再能满足芯核测试的需要，1EEEStd1500针对此问题提出了芯核的可测试性......

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IEEE Std1500 外壳可测试性测试访问机制 TAM控制器 IEEE Std 1500 wrapper testability test acc

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