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制备目标材料的高质量TEM样品对TEM测试表征和结果分析具有决定性作用。聚焦离子束(FIB)技术由于其微观定位选区制样的优势在TEM样......
聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-SEM双束系统后,通过结合相应的气体沉积装置,纳米操纵仪,各种探测器及可控的样......
介绍了目前几种适用于纳米材料透射电镜样品制备的方法,如包埋法、改进的胶粉混合法、聚焦离子束法等,并对这些方法的优缺点进行了......
