用Ｓｉ（Ｌｉ）探测器测量能量为２１－４０ｋｅＶ电子引起的Ｍｏ的特征Ｘ射线，从而确定ｋ壳层的电离截面。描述了衬底影响测量结果的方法。同各种理论计算的比较表明，实验......