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寿命试验失效模式相关论文
GaAs PHEMT器件沟道退化分析及对寿命的影响研究
GaAs PHEMT是单片微波集成电路(MMIC)的关键结构,其寿命和长期可靠性对微波毫米波频段的空间和军事领域的通信应用至关重要,GaAs PHEMT......
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PHEMT器件
PHEMT器件单片微波集成电路
单片微波集成电路欧姆接触退化
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可靠性寿命试验
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