芯片变异监控器相关硕士博士期刊学术论文 - 搜论网

芯片变异监控器相关论文

一种使用在基于单元库布局布线流程的芯片上变异（OCV）监控器方法学

工艺参数的变异导致半导体制造过程的偏差。这种变异无法避免而且在深亚微米领域,受限于光刻分辨率;氧化层腐蚀造成厚度的改变,因......

期刊

布局布线流程芯片变异监控器环形振荡器晶圆测试量产测试自适应电压与频率调节静态时序分析 IDDQ测试 Place and Route Flow On-

看过本文同时还关注