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全反射Ｘ荧光（ＴＸＲＦ）分析技术是一种快速多元素同时分析方法。由于其分析灵敏度高（ｐｇ级）、分析速度快、用样量少（μｇ，或μ１级）、可多元素同时分析（２０多个元素）、分析元素范围大（Ｚ≥１０）以及仪器简便、造价低等优势，被誉为分析领域内最具竞争能力的工具，在原子谱仪范围内居领地位。该文介绍对镍基溶液样品中含ｐｐｍ级左右的杂质元素的分析，以及对人发中的２０余种微量元素的定量分析，与原子吸收法和电化学法的测定结果符合较好，从制样到分析在２０—３０分钟内完成。