不同电子能量辐照下偏置对运算放大器辐射效应的影响

来源 :2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:fannao3562
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  本文介绍了LM837双极运算放大器在1.8Mev、1Mev,不同能量不同束流、相同能量不同束流的电子辐照下的辐射效应及常温退火特性。试验结果表明:1.8MeV电子能量辐照引起的LM837辐射损伤比1Mev明显;辐照过程中正偏条件下的偏置电流变化比零偏时微大;不同情况下辐照后的室温退火都表现出“后损伤”效应。本文对能量的不同、偏置的不同所导致的不同损伤机理进行了分析。
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