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本文结合AVIRIS高光谱影像实例，介绍了光谱角度制图法(Spectral Angle Mapping-SAM)的原理及应用步骤，并对基于影像和波谱库采集端元的两种方法产生的分类结果图像像进行差异探测，生成分类掩模图像。分析了SAM波讲角填图分类中不确定性产生的原因，对提高SAM分类精度提出了建议。