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化合物Gd117Fe52Ge112的Rietveld精修

来源 :第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：opentv2007

【摘 要】

：

利用X-射线粉末衍射技术和Rietveld结构修正方法对Gd117Fe52Ge112进行了研究,三元化合物Gd117Fe52Ge112具有Tb117Fe52Ge112结构类型,空间群为Fm(3)m(No.225).点阵参数为a=2.8

【作 者】

：

何维 张吉亮 曾令民 

【机 构】

：

广西南宁市广西大学材料研究所,530004

【出 处】

：

第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会

【发表日期】

：

2006年10期

【关键词】

：

Gb117Fe52Ge112 晶体结构 Rietveld方法. 

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利用X-射线粉末衍射技术和Rietveld结构修正方法对Gd117Fe52Ge112进行了研究,三元化合物Gd117Fe52Ge112具有Tb117Fe52Ge112结构类型,空间群为Fm(3)m(No.225).点阵参数为a=2.87680(1)nm,指标化的可靠性因子F30=80.4(30).用Rietveld方法对该化合物的晶体结构成功地进行了精化修正,精修得到的R因子分别为Rp=0.099和Rwp=0.128.

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