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该文应用以往的辐射效庆结果，给出电子系统上使用的嵌入式系统的黄型故障特征。从所处理的数据对象入手，应用常规计算机容错技术，给出有有铲的软件加固设计方法，即容错加固设计方法和系统恢复加因设计方法，主要给出提高系统刚健怀的有效措施，系统恢复技术只作了概念性有介绍。以辐射环境下计算机系统的薄弱环所在了储器为例，进行了故障模拟，故障纠错／检错和故障恢复的模拟实验。