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Variable angle spectroscopic ellipsometry study of InSb thin films grown on GaAs by metalorganic che
【机 构】
:
Laboratoryofoptoelectronicmaterials&detectiontechnology,GuangxiKeyLaboratoryfortheRelativisticAstrop
【出 处】
:
第十八届全国凝聚态光学性质学术会议
【发表日期】
:
2016年8期
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会议
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