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微波集成电路在片测试和校准技术
微波集成电路在片测试和校准技术
来源 :2002'全国第九届微波集成电路与移动通信学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:a2854831
【摘 要】
:
随着微波集成电路制作工艺和技术的不断发展,微波集成电路测试技术尤为重要.本文介绍了在片测试系统的测试和校准方法,指出了正确的测试方法,并比较了不同校准方法的优缺点.
【作 者】
:
韩利华
高翠琢
孙静
【机 构】
:
信息产业部电子13所(石家庄)
【出 处】
:
2002'全国第九届微波集成电路与移动通信学术会议
【发表日期】
:
2002年期
【关键词】
:
微波集成电路
在片测试系统
校准方法
制作工艺
测试技术
测试方法
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随着微波集成电路制作工艺和技术的不断发展,微波集成电路测试技术尤为重要.本文介绍了在片测试系统的测试和校准方法,指出了正确的测试方法,并比较了不同校准方法的优缺点.
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