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大肠埃希菌是引起院内感染且具有广泛耐药性的常见革兰阴性细菌，头孢他啶广泛用于治疗大肠埃希菌等革兰阴性细菌引起的感染，其耐药性与日俱增，给临床抗感染治疗带来很大困难。国内学者采用数学方法对大肠埃希菌头孢他啶耐药性进行了研究，提示细菌耐药性可被数字化方式描述。受此启发，本文采用D-R模型与灰色模型中的GM(1,1)模型对大肠埃希菌头孢他啶耐药性进行拟合，比较拟合结果，采用拟合结果较好的模型对未来耐药趋势进行推测，研究发现大肠埃希菌头孢他啶呈现"增长-控制-下降-再增长"的现实耐药规律，以及"平稳期-快速增长期-平稳期"的理论耐药规律，第一次用数字化的方式精确的描述出细菌耐药的现实与理论规律，为研究细菌耐药，指导临床用药，指导药品生产等提供重要参考。