射频磁控溅射法生长Mg0.1Zn0.9O:Al紫外透明导电膜性质研究

来源 :2006年全国功能材料学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:youkangstrong
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用射频磁控溅射法在玻璃衬底上制备了Mg0.1Zn0.9O:Al薄膜,衬底温度由30℃变化到230℃.X射线衍射结果表明Mg0.1Zn0.9O:Al薄膜为单相六角纤锌矿结构,具有(002)择优取向,衬底温度为180℃时制备薄膜的结晶程度较好.Mg0.1Zn0.9O:Al薄膜的电阻率约为9.0×10-2Ωcm,在可见光范围内平均透过率达到85﹪,制备薄膜的带隙宽度约为3.62eV.
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