论文部分内容阅读
本文探讨了密封元器件内部气体含量超标对元器件质量可靠性的危害性:A、造成元器件内部环境的化学污染,加速对内部金属的腐蚀作用,导致元器件失去应用的功能;B、引起元器件内部的软焊料和碳膜发生氧化反应,影响元器件的质量和贮存寿命;C、导致元器件绝缘性能下降或参数超差;D、低温下引起继电器功能失效等.同时,对密封元器件内部气体含量超标的原因也作了分析,并提出了一些改进措施.