Atomic-Layer-Deposited Aluminum Oxide for the surface passivation of p-type Emitter realized by liqu

来源 :第一届国际ALD应用大会暨第二届中国ALD学术交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:hhejiang
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  The dependence of surface recombination velocity on aluminum oxide(Al2O3)films for liquid source of boron bromide(BBr3)diffused P+emitter was investigated.Different boron surface concentration and emitter depth were realized by altering doping temperatures from 850 to 980 ℃.
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Atomic layer deposition(ALD)was used to controllably deliver precursors of TiO2 into the cores of micellar films of the amphiphilic block copolymer,poly(styrene-block-4-vinylpyridine)(PS-b-P4VP).