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随着微电机系统及微系统技术的发展，对材料疲劳性能尺寸效应的研究引起了材料研究者极大的关注。大多数研究者所研究的对象多为多晶材料，而关于单晶材料疲劳行为的尺寸效应的认识尚不系统，故本工作选取了[(3)45 ]单滑移取向的面心立方铜单晶体作为研究对象，在考察其单向拉伸力学行为的尺寸效应基础上，进而研究了其在恒应力幅控制下的拉-拉疲劳行为的尺寸效应。