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高聚物材料的结构测量有许多方法，其中一类是破坏性的，另一类是非破坏性的。利用高聚物光散射法来进行测量属于后者。该文着重论述了应用低通滤波器对光散射图象进行预处理的技术，其结果表明这种方法能有效地压缩噪声、达到增强信息的目的。（本刊录）
二维图象处理方法在高聚物结构分析和测量中的应用
【摘 要】
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高聚物材料的结构测量有许多方法，其中一类是破坏性的，另一类是非破坏性的。利用高聚物光散射法来进行测量属于后者。该文着重论述了应用低通滤波器对光散射图象进行预处理的技
【机 构】
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天津大学
【出 处】
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第二届全国光电技术与系统学术会议
【发表日期】
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1986年期
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