微电子封装无铅焊点的可靠性研究进展及评述

来源 :2009中国高端SMT学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yangor2008
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在电子电器产品的无铅化进程中,由于封装材料与封装工艺的改变,焊点的可靠性已成为日益突出的问题。着重从无铅焊点可靠性的影响因素、典型的可靠性问题及无铅焊点可靠性的评价3个方面阐述了近年来该领域的研究状况,进而指出无铅化与可靠性研究需注意的问题和方向。
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