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薄膜介面探测器(membralle interface probc， MIP)，为一现地直压式即时侦测工具，可同步侦测地下环境中之挥发性有机化合物质及导电度之空间分布，已广泛应用于挥发性有机化合物污染土壤地下水之场址调查。相较于传统采样检验技术，MIP可缩短取得高密度案场资料所需耗费之时间与成本，快速建构较明确之埸址特征资料。本案例说明一油品污染场址运用MIP现地调查技术，执行污染来源调查及场址特征分布评估，并经由土壤及地下水采样分析后，验证MIP快筛调查技术的准确性。根据MIP探测与传统检测结果之比对，两者所模拟之污染分布范围相似，侦测值与检测数据相关系数平方值(R-squared)为0.79，显示MIP能有效的掌握污染物分布范围与深度，再搭配少量重点式的取样化验，即可达到案场之污染物种类、浓度分布和污染来源确认的目标，并有效地节省时间与经费。