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多元半导体薄膜的基本光学参数确定
多元半导体薄膜的基本光学参数确定
来源 :第十五届全国固体薄膜学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:sosen871213
【摘 要】
:
近些年来,新型半导体材料及其光电子器件的研究受到了广泛关注。许多研究组在器件的结构设计、尺寸微纳化、性能提升等方面研究中各显神通,报道了大量优秀的研究工作。
【作 者】
:
王雷
顾大伟
沈临江
【机 构】
:
南京工业大学数理科学学院
【出 处】
:
第十五届全国固体薄膜学术会议
【发表日期】
:
2016年12期
【关键词】
:
薄膜
光学干涉
基本光学参数
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近些年来,新型半导体材料及其光电子器件的研究受到了广泛关注。许多研究组在器件的结构设计、尺寸微纳化、性能提升等方面研究中各显神通,报道了大量优秀的研究工作。
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