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在SoC芯片设计中,由于芯片测试引脚数目的限制以及基于芯片性能的考虑,通常有一些端口不能进行测试复用的IP核将不可避免地被集成在SoC芯片当中。对于非测试复用IP核,由于其端口不能被直接连接到ATE设备的测试通道上,由此,对非复用IP核的测试将是对SoC芯片进行测试的一个重要挑战。在本文当中,我们分别提出了一种基于V93000测试仪对非复用ADC以及DAC IP核的测试方法。对于非复用ADC和DAC IP核,首先分别为他们开发测试程序并利用V93000通过SoC芯片的EMIF总线对其进行配置。在对ADC和DAC IP核进行配置以后,就可以通过V93000捕获ADC模块采样得到的数字代码以及通过V93000采样DAC IP核转换得到模拟电压值,并由此计算ADC以及DAC模块的性能参数。实验结果表明,本文分别提出的为非复用ADC以及DAC模块的测试方案非常有效。