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随着微电子技术进一步发展和SoC设计复杂性的提高，SoC测试逐渐成为瓶颈；针对SoC测试的现状和IEEE Std1149.1的不足，本文利用IEEE Std1149.7的最新功能，通过设计一个芯片级的TAPC接口，在兼容IEEE Std1149.1的同时，实现对芯片内多个TAP的控制，从而对串行拓扑和星型拓扑的IEEE Std1149.7封装的IP核实现有效测试。