目的:研究饰瓷及循环加载对二硅酸锂玻璃陶瓷磨牙解剖全冠断裂载荷及失效模式的影响。方法:采用失蜡法制作二硅酸锂玻璃陶瓷(IPS e.max Press)单层磨牙全冠32个(M组);另采用回切技术结合手工涂塑饰瓷制作二硅酸锂玻璃陶瓷(IPS e.max Press/Ceram)双层磨牙全冠32个(B组)。将单、双层全冠随机分为2组(n=16),分别在电子万能试验机上进行抗折破坏试验(M1和B1)及1,200,000次滑动接触疲劳实验(sliding-contact fatigue)(M2和B2),循环加载后未失效的试件再进行抗折破坏试验。采用双因素析因方差分析比较4组断裂载荷值差异(α=0.05)。使用扫描电子显微镜进行断口形貌观察,分析失效单/双层磨牙全瓷冠的裂纹起源和扩展途径。结果:4组的平均断裂载荷值分别为2686±628 N(M1),1443±327 N(B1),2133±578 N(M2)和1464±419 N(B2)。两种加载方式下双层冠的断裂载荷值均显著低于单层冠(P<0.001);经1,200,000次滑动接触疲劳后单层冠的断裂载荷值显著降低(P=0.017),而双层冠无显著变化。循环加载后,所有单/双层冠均未出现饰瓷崩瓷或整体断裂失效。扫描电镜结果显示,单层冠绝大部分的失效源于拉应力集中的He面窝沟处,表现为锥状裂纹扩展导致的整体断裂。对于双层冠而言,失效同样表现为整体断裂,但裂纹源除表面窝沟处的锥状裂纹扩展外,还有一部分源于饰-核瓷界面处成簇聚集的气泡或空洞等缺陷。结论:单层二硅酸锂玻璃陶瓷修复体的抗折性能显著优于双层瓷修复体;循环加载是导致二硅酸锂玻璃陶瓷单层瓷修复体断裂失效的加速因素,而双层瓷修复体对循环疲劳不敏感;双层瓷修复体内部及饰-核瓷界面处的制作缺陷是导致其断裂失效的重要起源。