【摘 要】
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本文从光电耦合器的结构以及性能参数入手,对光电耦合器基于光、电的常见失效模式进行了介绍,并对这两方面的失效分析常见技术手段进行了对比.之后本文以LTV816D3光电耦合器的一例光电传输系数下降为0的失效案例为例,分别从电学失效分析与光学失效分析入手,采用了包括图示仪检测、X-射线检测、光发射显微镜检测等失效分析方法,对光电耦合器的失效分析提供了思路,对于其他类似电子元器件的失效分析也有参考作用.
【机 构】
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工业和信息化部电子第五研究所 广东 广州 510610
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本文从光电耦合器的结构以及性能参数入手,对光电耦合器基于光、电的常见失效模式进行了介绍,并对这两方面的失效分析常见技术手段进行了对比.之后本文以LTV816D3光电耦合器的一例光电传输系数下降为0的失效案例为例,分别从电学失效分析与光学失效分析入手,采用了包括图示仪检测、X-射线检测、光发射显微镜检测等失效分析方法,对光电耦合器的失效分析提供了思路,对于其他类似电子元器件的失效分析也有参考作用.
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