【摘 要】
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采用自洽场离散变分Xa(SCC DV Xa)方法对纯VO及VO复合薄膜不同状态的O轨道电子态密度和键强度等进行了研究;采用X射线光电子能谱(XPS)分析了VO结构中氧的化学状态.计算结果与实验结果对比发现,VO结构中存在四种状态的氧,聚合物(PEO)或聚合物(PEO)-Li嵌入VO结构主要存在于层间的位置,层间物质的引入导致双键氧的含量降低,三键氧的含量增加.
【出 处】
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第四届中国功能材料及其应用学术会议
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采用自洽场离散变分Xa(SCC DV Xa)方法对纯V<,2>O<,5>及V<,2>O<,5>复合薄膜不同状态的O<,1s>轨道电子态密度和键强度等进行了研究;采用X射线光电子能谱(XPS)分析了V<,2>O<,5>结构中氧的化学状态.计算结果与实验结果对比发现,V<,2>O<,5>结构中存在四种状态的氧,聚合物(PEO)或聚合物(PEO)-Li<+>嵌入V<,2>O<,5>结构主要存在于层间的位置,层间物质的引入导致双键氧的含量降低,三键氧的含量增加.
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