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红外成像类光电系统的性能评估是光电成像总体技术的重要组成部分。本文重点介绍了红外成像系统的作用距离模型，推导出了探测概率、虚警率与信噪比的关系，分析了背景杂波对系统性能的影响，并指出了评估技术发展的主要方向，对促进红外成像系统性能评估技术研究具有重要参考。
红外成像类光电系统性能评估技术研究
【摘 要】
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红外成像类光电系统的性能评估是光电成像总体技术的重要组成部分。本文重点介绍了红外成像系统的作用距离模型，推导出了探测概率、虚警率与信噪比的关系，分析了背景杂波对
【机 构】
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洛阳电光设备研究所,河(南洛阳471009
【出 处】
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第四届全国信息光学与光子器件学术会议
【发表日期】
：
2012年期
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