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会议论文
SIMS在半导体生产中的应用
SIMS在半导体生产中的应用
来源 :1998二次离子质谱学国际研讨会暨第二届全国二次离子质谱学会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yindiend
【摘 要】
:
该文介绍SIMS分析技术在半导体生产中几个典型的应用实例:1.在材料分析方面的应用一鉴别杂质成份,2.在工艺分析方面的应用-了解工艺情况,3.在解剖分析方面的应用--获得器件内部组成成份,以此说
【作 者】
:
赵梦璧
【机 构】
:
华晶电子集团公司技术支援中心理化
【出 处】
:
1998二次离子质谱学国际研讨会暨第二届全国二次离子质谱学会议
【发表日期】
:
1998年期
【关键词】
:
半导体
生产
应用
组成成份
杂质成份
解剖分析
技术
工艺分析
材料分析
器件
鉴别
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该文介绍SIMS分析技术在半导体生产中几个典型的应用实例:1.在材料分析方面的应用一鉴别杂质成份,2.在工艺分析方面的应用-了解工艺情况,3.在解剖分析方面的应用--获得器件内部组成成份,以此说明SIMS分析技术在半导体生产中的重要性。
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