【摘 要】
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文章(1)通过对模拟开关的实验测试 ,提出关于延时基本概念的深层次观点:检验电路系统中延时影响的标准,并不是该系统输入输出信号之间的延时值大小,而是该系统能否达到预期功能.(2)提出了一种改进结构的能够减小捕捉时间t〈,AC〉和跌落变化率的S/H电路,性能高达t=20ns、t=20ns,可以工作在20MSPS抽样频率对信号进行采样保持的场合.(3)报告了常规时序安排的带S/H采样系统中的一些重要数
【机 构】
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深圳大学信息工程学院EDA技术中心(深圳)
【出 处】
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中国电子学会电路与系统学会第十八届年会
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文章(1)通过对模拟开关的实验测试 ,提出关于延时基本概念的深层次观点:检验电路系统中延时影响的标准,并不是该系统输入输出信号之间的延时值大小,而是该系统能否达到预期功能.(2)提出了一种改进结构的能够减小捕捉时间t〈,AC〉和跌落变化率的S/H电路,性能高达t<,AC>=20ns、t<,AP>=20ns,可以工作在20MSPS抽样频率对信号进行采样保持的场合.(3)报告了常规时序安排的带S/H采样系统中的一些重要数学关系:允许的输入信号最高频率f<,max>不仅受限于Nyquist采样定理,还受限于S/H的孔径时间t<,AP>;而t<,AP>主要受限于S/H电路中模拟开关的断开延时t<,OFF>.
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