半导体激光器远场发散角的快速测量

来源 :2004年全国计算机体系结构学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:szRUIZHIZI
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本文介绍了一种计算机控制的半导体激光器远场发散角自动测量系统,它采用面阵CCD测量和数字图像处理技术对半导体激光器远场发散角进行快速测量,其主要优点是测量时间短、精度高,该系统适合用于大批量生产和使用半导体激光器的单位应用.
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