论文部分内容阅读
利用波长650 nm，功率25 mW的半导体激光及计算机视觉技术，初步探讨了利用激光图像分析技术对苹果(嘎拉)采后表面损伤和内部腐烂检测的方法和装置。利用一颗钢球从20cm的高度垂直自由下落至苹果表面，来模拟苹果在采收和运输过程中受到的损伤；利用微量注射器从苹果底部将一定孢子浓度的青霉菌液注入果心部位，来模拟苹果内部的腐烂。激光图像分析检测表明，受损伤后苹果图像像素数在36小时达到最高值，且在1-84小时内与对照差异显著；接种后的苹果随着内部腐烂的发生，在第4天图像像素数达到最高值，而后开始下降，第7天与对照差异显著。可以用此对苹果表面的损伤和内部腐烂进行检测，并为进一步的实际应用提供理论基础。