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采用传统陶瓷烧结方法,制备了Ca(1-x)Ce0.5xCu3Ti4O12(x=0,0.1,0.25,0.5,1)陶瓷,利用X 射线衍射仪,测定了材料的物相结构,利用扫描电镜测定了材料的微观形貌,利用阻抗分析仪测定了不同频率下材料的介电常数和介电损耗,研究了CeO2 对CCTO 材料的微观结构和介电性能的影响.