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随着超大规模集成电路技术的发展,系统要求上电复位电路拥有更多的功能和更佳的性能。本文通过分析常规上电复位电路存在的问题,提出了一种基于带隙比较器的上电复位和欠压检测电路。通过对电路结构的分析和仿真,证明这种电路在性能和可靠性方面均远远优于常规上电复位电路。这种电路已应用于一款8位通用MCU芯片中,在CSMC 0．5μm CMOS 工艺上流片验证通过。