【摘 要】
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本文利用多功能光电子能谱(XPS)和振动样品磁强计(VSM)对双层膜Co(25nm)/CoO(30nm)的磁性能进行了分析.发现在Co层和CoO层之间出现了CoO.热处理加速了Co和CoO层之间的扩散过
【机 构】
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南京大学固体微结构国家重点实验室东南大学物理系
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本文利用多功能光电子能谱(XPS)和振动样品磁强计(VSM)对双层膜Co(25nm)/Co<,3>O<,4>(30nm)的磁性能进行了分析.发现在Co层和Co<,3>O<,4>层之间出现了CoO.热处理加速了Co和Co<,3>O<,4>层之间的扩散过程,改变了CoO层的厚度.面内变化角度测得的磁滞回线偏置场的最大值出现在45°,而不是0°,函数关系可以用∑bncosnφ来描述.
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