【摘 要】
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将数字电路、模拟电路、处理器、存储器等集成到同一块芯片上的SoC技术,给集成电路的测试提出了新的挑战,其中模拟和混合信号电路的测试是目前SoC测试的瓶颈.本文提出一种基于振荡的SoC模拟核和模数转换器(ADC)可测性设计方案,在测试模式下,被测模拟核通过重构形成振荡器,产生周期性的信号作为ADC的测试激励.通过分析A/D转换结果,可对ADC进行柱状图测试,并同时检测模拟核的振荡频率,实现对模拟核的
【机 构】
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清华大学自动化系,北京,100084
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将数字电路、模拟电路、处理器、存储器等集成到同一块芯片上的SoC技术,给集成电路的测试提出了新的挑战,其中模拟和混合信号电路的测试是目前SoC测试的瓶颈.本文提出一种基于振荡的SoC模拟核和模数转换器(ADC)可测性设计方案,在测试模式下,被测模拟核通过重构形成振荡器,产生周期性的信号作为ADC的测试激励.通过分析A/D转换结果,可对ADC进行柱状图测试,并同时检测模拟核的振荡频率,实现对模拟核的振荡测试.
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