X射线荧光光谱熔融法测定磷矿中主次元素

来源 :2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012) | 被引量 : 0次 | 上传用户:zhouheng19850
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  以四硼酸锂一偏硼酸锂混合物作溶剂,采用熔融法制样,建立了测定磷矿中P2O5,CaO,Fe2O3,Al2O3,MgO和SiO2的X射线荧光光谱(XRF)法。用磷矿标样经同法测定并对测定结果进行理论α系数的校正后绘制工作曲线。本法与磷矿样品化学分析方法结果对照一致。
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本文采用硝酸钾预氧化、碳酸钠助熔、硼酸盐为熔剂熔融制样,讨论了氧化剂、助熔剂加入量、熔剂与稀释比等因素对样品制备的影响.用理论α系数法校正基体效应,建立了X射线荧光光谱法测定铬(铁)矿中Al2O3、SiO2、CaO、MgO、Fe2O3、Cr2O3、P等组分的方析方法.结果表明,七种测量组分的相对标准偏差(n=6)在0.33%~13.78%之间,本法测定值与化学法分析结果吻合较好.
采用X射线荧光光谱法分析锰硅合金中铝钛含量.研究了仪器分析参数的设置,样品粒度的影响,制片压力与时间的选择等内容,提高了检测数据的准确度.测定结果与国家标准方法的测定值相符,相对标准偏差在0.19%~3.53%之间,可满足日常生产要求.
本文提出直接粉末压片法,并忽略CaCO3对测量CaF2影响,用偏振X-射线能量色散荧光光谱测量萤石矿中CaF2、SiO2、Fe2O3、K2O、S和P等组分。根据分析组分加和∑C值进行归一化校正计算,得出同化学分析十分接近结果。对CaCO3、S含量比较高的萤石矿未知样分析,采用文献推荐C-S联合测定法进行修正。对有关归一化校正、计算的条件限制作了说明。
本文提出比值法、稀释压片散射线法测定铜矿粉多组分.试验结果表明,按照铜粉样3.000 0 g+1.000 0 g纤维素稀释比例,以铑靶Compton散射线内标校正法拟合Cu、Ag、As、Pb、Zn、Fe等元素工作曲线效果明显.准确度、精密度实验考核结果比较满意,可以满足进口铜精矿品质快速检验的需要.比值法更为简便,可满足一般性测量要求.
本文提出用粉末压片法、以二次靶偏振激发能量色散X射线荧光光谱(XRF)测定铁矿石中硫的新方法.借助C-S 800碳-硫仪分析日常铁矿石S(%)定植样为参考校正标准样,以抵消铁矿石颗粒度、矿物组成差异影响.对硫含量在0.5%~2.5%以上铁矿石分析获得满意结果.本方法作为技术储备而受到好评,国内还没见到类似文献报道.
提出了用熔融制样-X射线荧光光谱法测定FeSiB非晶合金炉渣中TFe、CaO、MgO、SiO2、Al2O3、MnO和TiO2的方法.讨论了玻璃熔片的制备和稳定性、基体的吸收和增强效应校正、用人工配制的标准样品绘制校准曲线等问题.在最佳的分析条件下,测定了人工配制的标准样品中TFe、CaO、MgO、SiO2、Al2O3、MnO和TiO2的含量.用同一人工配制的标准样品,在完全相同条件下制备了11个熔
采用二元合金校正镍铬合金中元素间的谱线重叠干扰,理论α系数校正元素间的吸收和增强效应,建立了X射线荧光光谱法测定镍铬合金中的镍、铬、钼等十五个元素的方法.试验不同的砂带粒度和材质研磨样品对元素测定结果影响,结果表明砂带的粒度影响测定结果的准确性,使用合有待测元素材质的砂带导致该元素测定结果偏高.方法用于测定镍铬合金中的镍、铬、钼时的标准偏差(RSD,n=11)分别为0.16%、0.16%、0.08
利用波长色散X射线荧光光谱仪,采用压片法同时测定锌精矿中的Zn、Pb、Mn、Fe、Cd、As等组分。用国家标样和参考标样绘制工作曲线,以Compton散射线内标校正基体取得了较好的效果。试验结果表明,本方法不但实现快速检测,而且准确度和精密度满足工作要求,与现行国标方法相比分析周期短,适用于大宗锌精矿商品进出口快速检验、通关放行的要求。
通过对镍基体料炉渣的研究,用压片法制备样片,X荧光光谱法进行测定矿热炉渣中TFe、SiO2、CaO、MgO、Al2O3的含量。因目前国内没有与之对应的标准样品,通过化学法多次定值,取平均值做为控制样品建立校准曲线,对元素之间的干扰效应进行校正,找出了最适宜的检测方法,镍基体料炉渣中的硅含量较高,其浓度在(43%~53%)测定范围内测稳定性。本方法的精密度和准确度在不同实验室之间分析结果基本一致,本
合成渣采用熔融法制样。用X-射线荧光光谱仪对合成渣中的Cao、CaF2、SiO2、Al2O3、MgO、S、P进行定量分析,建立每个成份的工作曲线,并对7种成份进行基体校正回归计算,此方法的建立与应用可实现合成渣准确、快速分析,提高分析准确度及分析速度。