应变Si1-xGex层禁带宽度的研究

来源 :第十二届全国半导体集成电路硅材料学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:penghong97
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在前人研究的基础上,本文提出了锗硅材料禁带宽度随含量x、温度T、及掺杂浓度N<,A>变化的经验公式,改善了以往经验公式局限性较大的缺点.分析并计算了不同温度、掺杂浓度以及不同材料的禁带变窄量,与实验数据进行了对比,两者符合得很好.
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