在ICF实验研究中,X光能谱的测量,可以提供大量的物理信息,尤其是高分辨的X光能谱,利用它可以给出腔靶X光辐射能谱结构,X光辐射流以及辐射温度,是辐射输运和辐射驱动内爆研究的基础。测量X光辐射能谱的方法较多,目前主要使用的设备有K边滤波XRD阵列谱仪和透射光栅谱仪等。但是,K边滤波XRD阵列谱仪主要存在能带宽度较宽和高能尾部的问题。透射光栅谱仪虽然能谱分辨较高,但是它存在高级衍射相互重叠,解谱非常困难。利用多层镜能谱仪既可以避免高能尾部的影响,也能避免高级衍射的影响。作者利用多层镜的色散原理完成了谱仪的物理设计,与同济大学合作成功研制了谱仪的多层镜色散元件,配以合适的滤片,采用快响应的XRD探测器和示波器组成多层镜软X射线能谱仪,通过在北京同步辐射源上对多层镜反射率、滤片厚度和XRD能量响应的绝对标定,在神光Ⅲ原型物理实验中给出了腔靶入口的绝对辐射能谱。能谱分辨好于20,强度相对不确定度好于20％。