电力半导体器件可靠性和试验、分析方法

来源 :中国电工技术学会第四届可靠性学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:shengaogao3
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
其他文献
随着经济的不断发展和社会的不断进步,为了提高综合国力,以此来适应时代的发展,我国的政府预算也在不断的进行着深化改革.近几年,政府预算绩效管理也是我国政府改革过程中比
随着经济的飞速发展,带动了我国公路运输的发展,同时也带来了高速公路的飞速建设,高速公路的推进不仅为人们的出行带来了方便,还降低了人们的出行成本,大幅度节约了出行时间,
对含N薄栅MOS电容进行了Co-60γ辐照和100℃恒温退火行为的分析研究,结果表明:栅介质中N的引入,能明显抑制辐射感生Si/SiO界面态的产生,减少初始固定正电荷和界面态,减小辐照后界
详细介绍了泸天化集团公司计算机分级管理网络系统(LTH—CIMS)生产实时数据监测子系统的设计、开发与应用等方面的情况,为今后管控一体化,生产调度柔性系统奠定良好基础。 T
该文从全球半导体分立器件市场预测出发,简要地分析了分立器件内资企业的知识经济时代所面临的挑战和发展机遇,提出生产企业要冷静地应对新的局面,坚持走创新之路,在激烈的竞争中
随着我国社会经济的快速发展,高校建设与教学工作也被逐渐重视,相关政府对于其投资额度也在不断加大.为了顺应新时代的发展和建设高水平的学科专业需求,高校将陈旧落后的教学