【摘 要】
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滤波荧光法是脉冲硬X射线的测量方法之一。它通过透过滤波片照射在荧光体上而产生的X荧光的测量，来诊断脉冲X光源的能谱和时间性。他们经过精心的选择滤片和荧光体的 材料和厚
【出 处】
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第六届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会
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滤波荧光法是脉冲硬X射线的测量方法之一。它通过透过滤波片照射在荧光体上而产生的X荧光的测量，来诊断脉冲X光源的能谱和时间性。他们经过精心的选择滤片和荧光体的 材料和厚度尺寸，选廉价的剂量片作探测器组成了能谱测量系统。由于剂量片是非时间性测量，在测量系统中采取了散射法，用PIn探测器对光源进行时间性测量，从而完成对脉冲硬X射线光源的诊断。对于能量大大高于元素材料的吸收限的硬X射线，采用了超过滤波荧光法 来加以测量。该测试系统具有制作费用低、体积小、抗电磁干扰等特点。
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