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该文介绍了GaAs高速集成电路在片瞬态参数测试的技术原理、系统组成。利用该系统对部分GaAs高速电路进行了测试，结果表明，该系统行之有效。
GaAs高速电路在片瞬态测试技术研究
【摘 要】
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该文介绍了GaAs高速集成电路在片瞬态参数测试的技术原理、系统组成。利用该系统对部分GaAs高速电路进行了测试，结果表明，该系统行之有效。
【机 构】
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集成电路国家级重点实验室
【出 处】
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全国化合物半导体、微波器件和光电器件学术会议
【发表日期】
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1998年期
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