【摘 要】
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大尺寸板状构件的无损检测技术很重要,当使用传统的计算机断层成像(CT)时,X射线很难从侧面穿过板状构件.并且,为了避免碰撞,X射线管和转轴之间的距离不能太小,这就限制了CT系统的空间分辨率.因此,本文提出了一种结构简单的新型工业计算机分层成像(ICL)系统可有效解决上述问题.本系统在扫描过程中射线源固定不动,平板探测器和物体同步平行运动,并且在运动过程中探测器同步旋转,使探测器始终与射线源中心射束
【机 构】
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重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室,重庆 400044 重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室
【出 处】
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第二届中国泛西部无损检测学术交流会
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大尺寸板状构件的无损检测技术很重要,当使用传统的计算机断层成像(CT)时,X射线很难从侧面穿过板状构件.并且,为了避免碰撞,X射线管和转轴之间的距离不能太小,这就限制了CT系统的空间分辨率.因此,本文提出了一种结构简单的新型工业计算机分层成像(ICL)系统可有效解决上述问题.本系统在扫描过程中射线源固定不动,平板探测器和物体同步平行运动,并且在运动过程中探测器同步旋转,使探测器始终与射线源中心射束垂直,提高了探测器的利用率.使用改进的M-SART算法对系统进行了数值仿真实验,证明了本系统的可行性.进一步表明本文提出的ICL系统具有广阔的应用前景.
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