【摘 要】
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本文系统介绍了用倒易空间图分析界面的理论方法，并用该方法研究了液相外延HgCdTe/CdZnTe异质界面的结合情况。结果表明该HgCdTe样品(LPES307)的界面垂直失配为-0.037％，沿[-110]轴向和[-211]轴向的水平晶格失配分别为-0.035％和-0.076％。同时也表明HgCdTe/CdZnTe 界面之间的倾角几乎为零。另外，也得到了外延层的界面组分和晶格参数分别为0.2300
【机 构】
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中国科学院上海技术物理研究所半导体材料与器件研究中心,上海,200083
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本文系统介绍了用倒易空间图分析界面的理论方法，并用该方法研究了液相外延HgCdTe/CdZnTe异质界面的结合情况。结果表明该HgCdTe样品(LPES307)的界面垂直失配为-0.037％，沿[-110]轴向和[-211]轴向的水平晶格失配分别为-0.035％和-0.076％。同时也表明HgCdTe/CdZnTe 界面之间的倾角几乎为零。另外，也得到了外延层的界面组分和晶格参数分别为0.2300 和0.646611nm。
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