倒易空间图相关论文
本文系统介绍了用倒易空间图分析界面的理论方法，并用该方法研究了液相外延HgCdTe/CdZnTe异质界面的结合情况。结果表明该HgCdTe样......
稀磁GaMnAs外延膜中的Mn含量会影响外延膜的空穴浓度和应变弛豫.Raman散射研究表明,Mn含量为3%的超薄GaMnAs样品的空穴浓度大于2%......
铁电块材因其具有可将电信号、机械信号和热信号之间相互转换的特征而在通信、导航、精密测量、信息存储等领域得到广泛的应用。但......
InGaN材料在光电材料和光电器件方面有着重要的应用前景。尤其是随着半导体照明和太阳能电池技术的发展，InGaN材料的研究受到人们越......
采用分子束外延技术(MBE)在MgO(001)基板上沉积了氧化铬薄膜,并利用x射线衍射(XRD)和x射线反射谱(XRR)对薄膜的晶体结构进行了表征......
采用分子束外延技术(MBE)在MgO(001)基板上沉积了氧化铬薄膜,并利用x射线衍射(XRD)和x射线反射谱(XRR)对薄膜的晶体结构进行了表征......
运用X射线衍射技术,对InSb材料的结晶质量进行检测,是判定InSb材料质量的重要方法之一。采用2θ-ω对称扫描,对(111)、(333)、(044......
文中利用X射线三轴衍射测试手段对高Al(x≥0.45)含量p-i-n结构的AlxGa1-xN外延材料进行测试,并结合倒易空间图(RSM)和PV函数法对Al......
采用高分辨 X射线衍射的倒易空间图研究了 HgCdTe/CdZnTe(- 0.044%晶格失配 )液相外 延材料界面处晶格结构,结果显示,通常使用的 1......
介绍了倒易点二维图的概念,分析了AlGaInP/GaAs外延层的倒易点二维图,阐明其倒易点二维图的展宽方向和原因,获得了应变及晶面弯曲......
对X射线倒易空间图技术(RSM)及X射线反射技术(XRR)的原理及其在外延薄膜表征方面的应用进行了介绍.RSM主要用于表征外延薄膜的应变......
高分辨率X射线衍射具有不损伤样品,无污染、高精度等优点,能够得到有关晶体的完整信息,是研究薄膜性质的重要手段之一。本文采用高......
简要介绍了X射线双晶衍射技术的原理；描述了双晶衍射技术的发展与演化.文中简要讲述了多晶衍射技术的应用范围及应用多晶衍射仪所能......
